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詳細介紹
品牌 | SYSTESTER/思克 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子,印刷包裝 |
薄膜紙張測厚試驗儀
v> 應用范圍 適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
主要特點
? 接觸式測量原理
? 德國測厚傳感器
? 工業(yè) TFT 屏,觸摸屏操作
? 零導航深度的扁平化界面 UI,操作更加方便快捷
? 真彩色液晶顯示試驗數(shù)據(jù)、結(jié)果
? 手動、循環(huán)、預約定時多種測量模式
? 測試過程全自動完成
? 內(nèi)嵌最*值、最小值、平均值、標準差數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析功能
? 本機內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)查詢功能
? 配置微型打印機,可自動打印單次、統(tǒng)計報告
? 配置標準通信接口
? 可支持 DSM 實驗室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng),實現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理(選購)
技術指標
測量范圍:0~2mm(標配) 0~10mm(可選)
分 辨 率:0.1μm
測量速度:1~25 次/min(可調(diào))
測 量 頭:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(標配) 紙張:200mm2,50±1kPa(可選)
電 源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)
凈 重:38kg
執(zhí)行標準 GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、 ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、 BS 4817
薄膜紙張測厚試驗儀
產(chǎn)品配置
標準配置:主機、薄膜測量頭、微型打印機、標準量塊一件
選 購 件:紙張測量頭、自動進樣裝置、配套軟件、通信電纜、標準量塊、DSM 實驗室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)
注:產(chǎn)品技術規(guī)格如有變更,恕不另行通知,SYSTESTER 思克保留修改權與最終解釋權!
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